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krzyzak adam (curatore); suen ching y. (curatore); torsello andrea (curatore); nobile nicola (curatore) - structural, syntactic, and statistical pattern recognition

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26–27, 2022, Proceedings

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

Springer

Pubblicazione: 01/2023
Edizione: 1st ed. 2022





Trama

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2022, held in Montreal, QC, Canada, in August 2022.

The 30 papers together with 2 invited talks presented in this volume were carefully reviewed and selected from 50 submissions. The workshops presents papers on topics such as deep learning, processing, computer vision, machine learning and pattern recognition and much more.











Altre Informazioni

ISBN:

9783031230271

Condizione: Nuovo
Collana: Lecture Notes in Computer Science
Dimensioni: 235 x 155 mm
Formato: Brossura
Illustration Notes:XIII, 324 p. 118 illus., 93 illus. in color.
Pagine Arabe: 324
Pagine Romane: xiii


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