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van roermund arthur h.m. (curatore); baschirotto andrea (curatore); steyaert michiel (curatore) - nyquist ad converters, sensor interfaces, and robustness

Nyquist AD Converters, Sensor Interfaces, and Robustness Advances in Analog Circuit Design, 2012

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

Springer

Pubblicazione: 12/2014
Edizione: 2013





Trama

This book is based on the 18 presentations during the 21st workshop on Advances in Analog Circuit Design.  Expert designers provide readers with information about a variety of topics at the frontier of analog circuit design, including Nyquist analog-to-digital converters, capacitive sensor interfaces, reliability, variability, and connectivity.  This book serves as a valuable reference to the state-of-the-art, for anyone involved in analog circuit research and development. 





Sommario

Part I: Nyquist A/D Converters.- High Performance Pipelined A/D Converters in CMOS and BiCMOS Processes.- Dual Residue Pipeline ADC.- Time-Interleaved SAR and Slope Converters.- GS/s AD Conversion for Broadband Multi-Stream Reception.- CMOS Ultra High-Speed Time-Interleaved ADCs.- CMOS ADCs for Optical Communications.- Part II: Capacitive Sensor Interfaces.-MEMS and Sensors, Today and Tomorrow.- Energy-Efficient Capacitive Sensor Interfaces.- Interface Circuits for MEMS Microphones.- Front-End Electronics for Solid State Detectors in Present and Future High-Energy Physics Experiments.- Part III: Robustness.- How Can Chips Live Under Radiation?.- TDC and Rad Environments.- Matching and Resolution.- Matching in Polymer and Effect on Circuit Topologies.- Statistical Variability and Reliability in Nano-CMOS Transistors.











Altre Informazioni

ISBN:

9781489997944

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 235 x 155 mm
Formato: Brossura
Illustration Notes:X, 294 p.
Pagine Arabe: 294
Pagine Romane: x


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