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This book describes the various tradeoffs systems designers face when designing embedded memory. Readers designing multi-core systems and systems on chip will benefit from the discussion of different topics from memory architecture, array organization, circuit design techniques and design for test. The presentation enables a multi-disciplinary approach to chip design, which bridges the gap between the architecture level and circuit level, in order to address yield, reliability and power-related issues for embedded memory.
Sommario
Introduction.- Cache Architecture and Main Blocks.- Embedded Memory Hierarchy.- SRAM Memory Operation and Yield.- Low Power and High Yield SRAM Memory.- Leakage Reduction.- Embedded Memory Verification.- Embedded Memory Design Validation and Design For Test.- Emerging Memory Technology Opportunities and Challenges.
Altre Informazioni
ISBN:
9781461488804
Condizione: Nuovo
Collana: Analog Circuits and Signal Processing
Dimensioni: 235 x 155 mm Ø 342 gr
Formato: Copertina rigida
Illustration Notes:XIII, 95 p. 63 illus., 37 illus. in color.
Pagine Arabe: 95
Pagine Romane: xiii
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