Disponibilità: Normalmente disponibile in 15 giorni A causa di problematiche nell'approvvigionamento legate alla Brexit sono possibili ritardi nelle consegne.
This book describes the various tradeoffs systems designers face when designing embedded memory. Readers designing multi-core systems and systems on chip will benefit from the discussion of different topics from memory architecture, array organization, circuit design techniques and design for test. The presentation enables a multi-disciplinary approach to chip design, which bridges the gap between the architecture level and circuit level, in order to address yield, reliability and power-related issues for embedded memory.
Sommario
Introduction.- Cache Architecture and Main Blocks.- Embedded Memory Hierarchy.- SRAM Memory Operation and Yield.- Low Power and High Yield SRAM Memory.- Leakage Reduction.- Embedded Memory Verification.- Embedded Memory Design Validation and Design For Test.- Emerging Memory Technology Opportunities and Challenges.
Altre Informazioni
ISBN:
9781461488804
Condizione: Nuovo
Collana: Analog Circuits and Signal Processing
Dimensioni: 235 x 155 mm Ø 342 gr
Formato: Copertina rigida
Illustration Notes:XIII, 95 p. 63 illus., 37 illus. in color.
Pagine Arabe: 95
Pagine Romane: xiii
Dicono di noi
Per noi la tua privacy è importante
Il sito utilizza cookie ed altri strumenti di tracciamento che raccolgono informazioni dal dispositivo dell’utente. Oltre ai cookie tecnici ed analitici aggregati, strettamente necessari per il funzionamento di questo sito web, previo consenso dell’utente possono essere installati cookie di profilazione e marketing e cookie dei social media. Cliccando su “Accetto tutti i cookie” saranno attivate tutte le categorie di cookie. Per accettare solo deterninate categorie di cookie, cliccare invece su “Impostazioni cookie”. Chiudendo il banner o continuando a navigare saranno installati solo cookie tecnici. Per maggiori dettagli, consultare la Cookie Policy.
