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bhushan bharat (curatore); fuchs harald (curatore) - applied scanning probe methods xi

Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Pubblicazione: 11/2010
Edizione: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009





Sommario

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.










Altre Informazioni

ISBN:

9783642098697

Condizione: Nuovo
Collana: NanoScience and Technology
Dimensioni: 235 x 155 mm
Formato: Brossura
Illustration Notes:LVI, 236 p. 113 illus., 22 illus. in color.
Pagine Arabe: 236
Pagine Romane: lvi


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